1. Idegen nyelvű
  2. English books
  3. Mathematics, Science, Engineering
  4. Physics, Astronomy
  5. Electricity, Magnetism, Optics

High-Resolution X-Ray Scattering - From Thin Films to Lateral Nanostructures

Pietsch, Ulrich - Holy, Vaclav - Baumbach, Tilo

Springer US, 2004

angol・408 oldal・félvászon
További részletek
Részletek

  • angol
  • 408 oldal
  • Kötés: félvászon
  • ISBN: 0387400923

Online ár:

53 515 Ft

Eredeti ár: 56 331 Ft

Pietsch, Ulrich - Holy, Vaclav - Baumbach, Tilo: High-Resolution X-Ray Scattering idegen
Pietsch, Ulrich - Holy, Vaclav - Baumbach, Tilo

Online ár:

53 515 Ft

Eredeti ár: 56 331 Ft

ÉRTÉKELÉSEK

Neked hogy tetszett?

Értékeld:

Csak bejelentkezett felhasználók értékelhetik a terméket.

Értékelések ellenőrzése

A kizárólag regisztrált felhasználóinktól származó értékeléseket és véleményeket nem hitelesítjük, a moderálás jogát azonban fenntartjuk.

Árinfó

Akciós ár: a vásárláskor fizetendő akciós ár

Online ár: az internetes rendelésekre érvényes nem akciós ár

Eredeti ár: kedvezmény nélküli könyvesbolti ár

Bevezető ár: az első megjelenéshez kapcsolódó kedvezményes ár

Korábbi ár: az akciót megelőző 30 nap legalacsonyabb akciós ára

További információk

Árinfó

Akciós ár: a vásárláskor fizetendő akciós ár

Online ár: az internetes rendelésekre érvényes nem akciós ár

Eredeti ár: kedvezmény nélküli könyvesbolti ár

Bevezető ár: az első megjelenéshez kapcsolódó kedvezményes ár

Korábbi ár: az akciót megelőző 30 nap legalacsonyabb akciós ára